影像量測分析軟體與系統全覽

影像量測分析軟體與系統介紹

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志隆國際科技有限公司致力於提供多元且高效的影像量測分析解決方案，協助用戶在半導體、材料科學等領域進行精確的檢測與分析。以下為本公司主力影像量測分析產品：

Captomator 攝影用載台控制軟體 Contami Analyzer 晶圓缺陷檢查 Cosmo Finder 缺陷檢查系統 Winroof 影像拼圖裝置

產品特色與應用

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• Captomator 攝影用載台控制軟體
  低成本高精度XY軸控制載台，結合顯微鏡與WinRoof軟體，適用於拋光後粒子缺陷計算及圖形樣品缺陷計算。 了解更多

• Contami Analyzer 晶圓缺陷檢查
  適用於Wafer表面瑕疵檢查、膜濾器粒子異物檢查、圖案化晶圓瑕疵檢查，並可選購AI深層學習軟體。 了解更多

• Cosmo Finder 整合性粒子缺陷量測分析系統
  用於晶圓拋光後表面瑕疵檢查及晶圓線路瑕疵檢查。 了解更多

• Winroof
  提供尺寸自動量測、粒子尺寸自動分析與計算、影像處理功能，以及巨集程式自動計算、分析與統計。 了解更多

• 影像拼圖裝置（e-tiling）
  便於大範圍樣品的影像拼接與觀察。 了解更多

如需更多產品資訊或現場測試，歡迎聯絡我們。