晶圓量測應用與產品介紹 #
志隆國際科技有限公司致力於提供高精度的晶圓量測解決方案，協助半導體產業提升製程品質與效率。以下為本公司主要晶圓量測產品及其特色：
主要產品一覽 #
Contami Analyzer 晶圓缺陷檢查
Step Height 量測產品特色與功能 #
Contami Analyzer 晶圓缺陷檢查 #
- 適用於Wafer表面瑕疵檢查
- 支援膜濾器粒子異物檢查
- 圖案化晶圓瑕疵檢查
- 可選購AI深層學習軟體，提升自動化辨識能力
Step Height 量測（NH-3SP 膜厚量測） #
- 巨集程式化自動量測晶圓表面線路膜厚、線寬、粗糙度
- 支援Alignment Mark自動辨識，提升量測效率
聯絡與服務 #
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